Přístroje

 s klíčový slovem 

EDX

Logo organizace

AnalytickyRem - Analytický řádkovací elektronový mikroskop

Fakulta materiálově-technologická VŠB-TUO
Regionální materiálově technologické výzkumné centrum
Konkrétní využití:
Moderní řádkovací elektronový mikroskop (QUANTA 450 FEG), který umožňuje komplexně charakterizovat strukturu materiálů. Kromě zobrazení strukturypři vysokém rozlišení je možné stanovit lokální chem. složení a krystalografické parametry (orientace zrn, identifikace fází) povrchové vrstvy studovaných vzorků. Variabilní tlak v pracovní komoře mikroskopu umožňuje studovat nevodivé vzorky bez jejich úpravy(zvodivění).
Způsoby a možnosti využití podniky (v průmyslu):
Veškeré druhy analýzy pomocí SEM se poskytují jako služba
Logo organizace

Elektronový mikroskop Explorer 4 analyzer

Fakulta materiálově-technologická VŠB-TUO
Regionální materiálově technologické výzkumné centrum
Konkrétní využití:
Analýza lomových poch (fraktografie). Analýza porušení. Analýza lokální chemického složení. Zařízení je vybaveno detektorem sekundárních elektronů, kvadrupólovým detektorem zpětně odražených elektronů a EDX analyzátorem. Komora pro umístění vzorků má rozměry 100 mm x 100 mm x 80 mm a automatický posuv vzorku lze provádět v rozmezí x-y 80 mm x 100 mm. Max. výška vzorku je 65 mm. Hlavní předností přístroje je rychlá kvantitativní a kvalitativní automatická analýza nekovových vměstků v ocelích. Automatická analýza umožňuje stanovit jak velikost těchto částic, tak jejich prvkové složení. Výsledky automatické analýzy jsou přehledně znázorněny v následném protokolu z měření. Obsahuje: základní informace o materiálu a parametry analýzy; rozložení stanovených základních vměstků; množství jednotlivých vměstků a jejich procentuální zastoupení; rozložení vměstků podle velikosti; prvkové složení pro jednotlivé vměstky.
Způsoby a možnosti využití podniky (v průmyslu):
Analýza lomových poch (fraktografie). Analýza porušení.Analýza lokální chemického složení. Analyzovat lze jak kovové vzorky, tak i nekovové vzorky za nízkého vakua. EDX analyzátor s rozlišením 135 eV umožňuje: bodovou analýzu, plošnou analýzu a mapování. Stanovení obsahu nekovových vměstků v oceli dle norem: ISO 4967, ASTM E2142, ASTM E45, JIS G 0555.
Logo organizace

Řádkovací elektronový mikroskop JEOL IT 500 HR

COMTES FHT a.s.
Mikrostrukturní analýzy a fraktografie
Konkrétní využití:
Fraktografie, mikrostrukturní analýzy, STEM. EBSD, EDX
Logo organizace

TEM - Prozařovací elektronový mikroskop

Fakulta materiálově-technologická VŠB-TUO
Regionální materiálově technologické výzkumné centrum
Konkrétní využití:
Prozařovací elektronová mikroskopie tvoří nedílnou součást detailní charakterizace struktury kovových i nekovových materiálů. Vysoká rozlišovací schopnost této techniky umožňuje studovat jemné detaily struktury včetně stanovení lokálního chemického složení a krystalografických parametrů koexistujících fází/mikrostrukturních složek. Technické parametry přístroje (JEM-2100). Urychlovač napětí: 200 kV. Elektronová tryska: LaB6. Bodové rozlišení: 0,25 nm. Elektronová difrakce: SAED, CBED, NBED. Energiově disperzní mikroanalýza (EDX). STEM jednotka. HAADF detektor.
Způsoby a možnosti využití podniky (v průmyslu):
jako služba