Moderní řádkovací elektronový mikroskop (QUANTA 450 FEG), který umožňuje komplexně charakterizovat strukturu materiálů. Kromě zobrazení strukturypři vysokém rozlišení je možné stanovit lokální chem. složení a krystalografické parametry (orientace zrn, identifikace fází) povrchové vrstvy studovaných vzorků. Variabilní tlak v pracovní komoře mikroskopu umožňuje studovat nevodivé vzorky bez jejich úpravy(zvodivění).

Analýza lomových poch (fraktografie). Analýza porušení. Analýza lokální chemického složení. Zařízení je vybaveno detektorem sekundárních elektronů, kvadrupólovým detektorem zpětně odražených elektronů a EDX analyzátorem. Komora pro umístění vzorků má rozměry 100 mm x 100 mm x 80 mm a automatický posuv vzorku lze provádět v rozmezí x-y 80 mm x 100 mm. Max. výška vzorku je 65 mm. Hlavní předností přístroje je rychlá kvantitativní a kvalitativní automatická analýza nekovových vměstků v ocelích. Automatická analýza umožňuje stanovit jak velikost těchto částic, tak jejich prvkové složení. Výsledky automatické analýzy jsou přehledně znázorněny v následném protokolu z měření. Obsahuje: základní informace o materiálu a parametry analýzy; rozložení stanovených základních vměstků; množství jednotlivých vměstků a jejich procentuální zastoupení; rozložení vměstků podle velikosti; prvkové složení pro jednotlivé vměstky.

Fraktografie, mikrostrukturní analýzy, STEM. EBSD, EDX

Prozařovací elektronová mikroskopie tvoří nedílnou součást detailní charakterizace struktury kovových i nekovových materiálů. Vysoká rozlišovací schopnost této techniky umožňuje studovat jemné detaily struktury včetně stanovení lokálního chemického složení a krystalografických parametrů koexistujících fází/mikrostrukturních složek. Technické parametry přístroje (JEM-2100). Urychlovač napětí: 200 kV. Elektronová tryska: LaB6. Bodové rozlišení: 0,25 nm. Elektronová difrakce: SAED, CBED, NBED. Energiově disperzní mikroanalýza (EDX). STEM jednotka. HAADF detektor.